失效分析案例——真貨不代表是真正能使用的貨
日期：2024-04-16 18:00:00
LM258DT是實驗室本次發(fā)現(xiàn)的一顆異常物料，實驗室在對其內(nèi)部結(jié)構(gòu)分析時，發(fā)現(xiàn)芯片的內(nèi)引腳存在位置偏移的現(xiàn)象，同時檢查鍵合點的時候發(fā)現(xiàn)綁線脫落。
該物料在檢查外觀時，發(fā)現(xiàn)外部并無縫隙，工程師通過去錫、整腳后檢查引腳的位置，也并未發(fā)現(xiàn)問題，于是工程師再次用X-ray檢測對內(nèi)部結(jié)構(gòu)進行檢查，發(fā)現(xiàn)內(nèi)部的內(nèi)引腳偏移、綁線脫落現(xiàn)象仍然存在。
因此，發(fā)現(xiàn)失效品使用失效的原因是由于封裝問題導致的，因為內(nèi)部鍵合線斷裂脫落后造成引腳開路，致使無法正常運行使用。