失效分析
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掃描式電子顯微鏡(SEM)
項目描述
掃描電子顯微鏡（Scanning Electron Microscope，SEM）是一種電子顯微鏡，利用聚焦電子束掃描樣品的表面來產(chǎn)生樣品表面的圖像。
其特點(diǎn)包括制樣簡單、放大倍數(shù)可調(diào)范圍寬、圖像的分辨率高、景深大、保真度高、有真實(shí)的三維效應(yīng)等。掃描電鏡（SEM）主要是通過二次電子，背散射電子和特征X射線（XRD）信號來分析試樣表面特性。
用途
掃描電子顯微鏡主要?于對材料形貌/尺寸進(jìn)行觀察并分析，對帶有鍍層的材料膜層分析、對材料微區(qū)進(jìn)行EDS元素分析、細(xì)胞觀察，同時在對材料進(jìn)?失效分析時進(jìn)?元素測定、?相分析等。
掃描電鏡主要?于觀察:觀察納米材料、材料斷口的分析、直接觀察原始表?、觀察厚試樣、觀察各個區(qū)域的細(xì)節(jié)。
SEM應(yīng)用
檢測對象：各種固體樣品
放大倍率：幾十-幾十萬倍
分辨率：納米級
提供的襯度信息：形貌襯度、成分襯度、晶體取向襯度形貌觀察：SEM可以觀察幾乎任何固體樣品的形貌，包括各種有機(jī)、無機(jī)材料。根據(jù)所收集信號的強(qiáng)弱形成明暗襯度差異的圖像直觀，富有立體感，和肉眼觀察到事物的效果幾乎無差別。
尺寸測量：SEM軟件可以測量圖像中的尺寸、角度、弧度等數(shù)據(jù)。
成分分布信息：背散射電子像可以反映樣品不同成分的分布情況。
晶粒觀察：利用電子通道效應(yīng)獲取樣品的晶體取向襯度，對于非常平整的表面，SEM可以觀察到晶體物質(zhì)的晶體顆粒。
檢測設(shè)備圖片