失效分析
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超聲波掃描（SAM）檢測
項目描述
超聲波掃描顯微鏡，英文名是: Scanning Acoustic Microscope，簡稱 SAM，由于它的主要工作模式是C模式，因此也簡稱: C-SAM 或 SAT 英文名 Scanning Acoustic Tomography。
超聲波顯微鏡分析是無損的檢測方式，其通過圖像及聲波對比度判別樣品內部分層、確定缺陷形狀和尺寸、確定缺陷方位等。同時可以檢測集成電路表面絲印打字重影、表面打磨、重新噴涂的真?zhèn)螜z測。
適用于
失效分析和可靠性分析。無損檢測電子元器件、LED、金屬基板的分層、裂紋等缺陷（裂紋、分層、空洞等）；通過圖像對比度判別材料內部聲阻抗差異、確定缺陷形狀和尺寸、確定缺陷方位。
我們的優(yōu)勢
實驗室檢測探頭都有其固定頻率及聚焦，其適用于不同封裝芯片，擁有目前全臺實驗室最完整的探頭組合，從低頻15 MHz至高頻100 MHz及更高階的230 MHz超高頻探頭，可滿足各種封裝型式的芯片檢測
超聲波檢測圖片
超聲波掃描設備